S. Kierspel1, R. Engels1
1: KARL DEUTSCH Prüf- und Messgerätebau GmbH + Co KG, Wuppertal
R. Maev1, Y. Oberdörfer1, E. Valetsky1, R. Kitzmann1
1: Tessonics Europe GmbH, Frechen
A. Bulavinov1, R. Pinchuk1, A. Samokrutov1, V. Shevaldykin1
1: ACS-Solutions GmbH, Saarbrücken
T. Fausten1
1: Waygate Technologies, Baker Hughes Digital Solutions GmbH, Hürth
H. Küchler1, A. Zink1
1: Olympus Deutschland GmbH, Hamburg
W. Hillger1, T. Reinelt1, A. Szewieczek1
1: Hillger NDT GmbH, Braunschweig
A. Kipp1
1: InfraTec GmbH, Dresden
J. Hansen1, H. Springer2
1: ETher NDE Ltd, St. Albans, Großbritannien2: Springer New Technologies Gmbh, Simmozheim