Vertrauenswürdigkeit sicherheitskritischer elektronischer Komponenten in einer global verflochtenen Liefer- und Wertschöpfungskette
D. Koster1, U. Netzelmann1, S. Quirin1, J. Oswald1, C. Jungmann1, R. Rick1, P. Stopp1, N. Brosta1, H. Gieser2, N. Kovac2, L. Meixner2, F. Altmann3, S. Brand3
1: Fraunhofer-Institut für Zerstörungsfreie Prüfverfahren IZFP, Saarbrücken
2: Fraunhofer-Einrichtung für Mikrosysteme und Festkörper-Technologien EMFT, München
3: Fraunhofer-Institut für Mikrostruktur von Werkstoffen und Systemen IMWS, Halle (Saale)