Röntgen-Computertomographie-Verfahren zur quantitativen Charakterisierung periodischer Minimalflächenstrukturen (TMPS)
G. Bruno1, S. Evsevleev1, T. Mishurova1, D. Meinel1, A. Koptioug2, M. Surmeneva3, D. Khrapov3, A. Paveleva3, R. Surmenev3
1: BAM, Bundesanstalt für Materialforschrung und -prüfung, Berlin
2: Mid Sweden University, Östersund, Schweden
3: Tomsk Polytechnic University, Tomsk, Russland