Fraunhofer-Institut für Techno- und Wirtschaftsmathematik ITWM

Die Abteilung »Materialcharakterisierung und –prüfung« des Fraunhofer ITWM entwickelt in enger Zusammenarbeit mit Partnern aus Industrie und Forschung maßgeschneiderte, industriell taugliche optische Prüfsysteme. Die Technologien reichen von der optischen Kohärenztomographie (OCT) im sichtbaren Spektralbereich über die Zeitbereichsspektroskopie im Terahertz-Frequenzbereich bis zu elektronischen Systemkonzepten im Millimeterwellenbereich. Diese Systeme werden eingesetzt in:
- Qualitätssicherung und -optimierung
- Oberflächen- und Materialcharakterisierung
- In-line, at-line und off-line Inspektion

Kontakt:
Dr. Joachim Jonuscheit
Telefon:
+49 631316000
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